産総研、SCREENホールディングスとの共同研究がAppl. Phys. Lett.オンラインに掲載されました テラヘルツ放射により半導体表面ポテンシャルが定量的に計測可能であることを示しました。 http://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.4980847
