テラヘルツ波計測システム

​各種材料（半導体、誘電体、酸化物、有機系材料等）のテラヘルツ波分光計測およびテラヘルツ波放射計測が可能です。また、冷凍機により試料を10K程度まで冷却できます。

テラヘルツ波計測システムの概観

並行平板導波路（PPWG）を使った極薄膜試料グランフェンのテラヘルツ波分光計測（THz-TDS）。 参考のため、通常のTHz-TDSデータも掲載。

上記システム以外にも、テラヘルツ放射顕微鏡（LTEM)や広帯域テラヘルツ分光システム等を用いた、テラヘルツ波イメージングや時間分解（ポンプ・プロープ）計測および広帯域（～7THz）計測等も可能です。詳しくは担当者までご相談ください。