テラヘルツ光学特性評価システム

本システムを用いてテラヘルツ帯(0.05 ~ 4 THz)の物性評価や分光、光学素子の評価・センシングに関する共同研究を行うことが可能です。また要望により、テラヘルツ帯から、赤外域(FT-IR)、可視域での測定も可能です。

対象： 半導体、誘電体、磁性体、メタマテリアルなどの測定

図1　テラヘルツ分光装置外観

• テラヘルツ分光(THz-TDS)法という手法を用います。
• イメージング、偏光分光、温度依存性(4K-750K)、時間分解測定、強磁場印加測定、テラヘルツ強励起実験、など
• テラヘルツ測定に関する各種の相談に応じます。下記までお問い合わせください。

図2　テラヘルツ波アンテナ

図3　高強度テラヘルツ波時間波形